本徵缺陷（intrinsic defect）

本徵缺陷是晶體純粹靠熱、完全不牽涉外來原子、自己製造出來的缺陷。即使是化學上完美、100% 純的晶體，只要溫度在絕對零度以上，也都布滿了它們，因為熱能不斷把離子敲離原位，而熵又獎勵一點點無序。它們是「與生俱來」的缺陷，相對於由雜質或摻雜帶進來的外質（extrinsic）缺陷。

在離子陶瓷中，本徵缺陷必須以電中性的套裝出現，主要有兩種配方：蕭特基套組（配套的陽離子與陰離子空位）與弗侖克爾對（一顆離子搬到間隙、留下其空位）。此外還有本徵「電子」對——熱激發一顆電子越過能隙，留下一個自由電子與一個電洞，nil ⇌ e' + h•。三者都由波茲曼因子支配：濃度隨溫度指數上升，離子對約為 exp(-E/2kT)、電子對約為 exp(-Eg/2kT)，E 是形成能、Eg 是能隙。溫度越高、形成能越低，本徵缺陷都越多。

本徵濃度設下一條材料在給定溫度下無法再低於的基線。不過實務上，真實陶瓷在低到中溫通常由「外質」主導：哪怕只有幾百 ppm 的異價雜質，都可能製造出比純靠熱更多的空位，所以本徵區只有在高溫、指數型熱項終於勝過固定的雜質貢獻時才接手。要分辨這兩個區間，正是布勞爾圖（Brouwer diagram）的用途。