X 光繞射與結構解析
殘留應力(residual stress)
殘留應力是即使外界沒有任何推拉,也仍鎖在零件內部的應力。它由那些使材料不均勻變形的製程留下——銲接、機械加工、研磨、淬火,或沉積一層鍍層。因為原子晶面本身最後被略微拉伸或壓縮,X 光繞射便能量出晶面間距的改變,直接由它讀出應力。實際上,晶格成了它自己內建的應變計。
其機制貫穿峰位。應力使 d 值應變,經布拉格定律便讓峰位移。標準的 sin 平方 psi 法,對選定的一組晶面,在數個樣品傾角 psi 下量測間距 d(或峰角)。把 d 對 sin^2(psi) 作圖得到一條直線,其斜率結合材料的彈性常數(楊氏模數 E 與帕松比 nu),就給出應力。拉伸殘留應力把平行於表面的晶面拉開,使峰往一個方向位移;壓縮應力把它們合攏,使峰往另一個方向位移。
這很重要,因為殘留應力默默主宰疲勞壽命、開裂與翹曲。刻意打進表面的壓應力——例如藉由珠擊(shot peening)——會把萌芽中的裂紋合攏,能大幅延長疲勞壽命,所以在航太、銲道與硬鍍層中量測它是例行工作。要誠實面對極限:X 光只穿透數微米,所以此法探測的是薄薄的近表層,而非塊材;它需要正確的彈性常數並假設某一種應力模型;而強織構或粗大晶粒會破壞單純的直線 sin 平方 psi 分析。
在一個經珠擊的齒輪齒面上,於傾角 psi 從 0 到 45 度量測鐵的 (211) 峰,得到一條斜率為負的 d 對 sin^2(psi) 直線——其大小乘上 E/(1+nu),回報數百百萬帕的表面壓應力,提升了疲勞壽命。
晶格是它自己的應變計:峰隨傾角的位移揭示鎖在內部的應力。
XRD 量的應力只限近表面(數微米),需要材料的彈性常數,並假設一個應力模型;強織構或大晶粒會破壞單純的 sin 平方 psi 直線。
又称
另见