截線法（linear-intercept method）

不用一個個把彎彎曲曲的晶粒描出來，要怎麼量晶粒尺寸？截線法用了一個絕妙簡單的技巧：在顯微照片上畫一條或數條已知總長的直測試線，數一數它們橫越了多少條晶界。被較長平均切段切過的晶粒較大；被較短平均切段切過的晶粒較小。這就像用一把捲尺橫越院子、數你跨過幾條縫，來估計鋪路石的大小。

做法是：在影像上放置真實總長為 L 的測試線（要對放大倍率作修正），數出測試線所交會的晶界數 P，再算出平均截線長 l = L / P。這個 l——一條隨機線在一個晶粒內走過的平均距離——就是報告用的晶粒尺寸量度；需要的話也可換算成 ASTM 指數。例如：真實總長 500 微米的測試線橫越 20 條晶界，則 l = 500/20 = 25 微米。在數個方向上用許多條線，可把不規則的晶粒形狀與任何拉長效應平均掉。

這方法快、不需軟體，並與晶粒計數一起載於 ASTM E112。它的統計性質也好：數更多交點會使估計更精確，而在數個角度上用線還能揭示晶粒是否被拉長（此時截線長會隨方向而變——這是變形或方向性凝固組織的指紋）。誠實的提醒：截線長 l 不是實際的晶粒直徑——它是隨機切過晶粒的平均弦長，比真實的三維晶粒尺寸小；要把兩者聯繫起來需要一個體視學因子。