顯微組織與織構

晶粒尺寸(grain size)

如果晶粒是鑲嵌畫的磁磚,晶粒尺寸問的就是:一塊典型的磁磚有多大?它是關於顯微組織最常被引用的一個數字,因為太多行為都取決於它。但晶粒是不規則的三維團塊,不是漂亮的球,所以它的尺寸不是一個顯而易見的數字——它是某個可量長度的平均值,而且你必須說清楚是哪一個。

實務上,晶粒尺寸有幾種標準的量化方式。你可以報告以微米為單位的平均晶粒直徑;平均截線長度(隨機測試線橫越一個晶粒所走過的平均長度,來自截線法);或 ASTM 晶粒度 G,一個對數尺度上的整數,G 越大代表晶粒越細。這些量度彼此相關卻不相同,所以報告晶粒尺寸時一定要說明方法。真實的晶粒尺寸數據還附帶一個散布範圍——晶粒尺寸分布——因為晶粒從來不是大小一致;尺寸是那個分布的平均值。

晶粒尺寸之所以重要,是因為它直接調控強度:霍爾-佩奇關係指出降伏強度大約隨 1/sqrt(d) 上升,所以把晶粒直徑減半就能明顯強化金屬,而極細的晶粒通常也能同時改善韌性。這正是為什麼晶粒細化是少數能同時提升強度與韌性的方法之一。誠實的提醒:你從一片平坦拋光截面讀到的晶粒尺寸,是真實三維尺寸的一個偏低估計,因為隨機切面很少剛好把晶粒從最寬處切開——這要靠體視學來修正。

標示為 ASTM G = 8 的鋼,在 100 倍下每平方英吋約有 2^(8-1) = 128 個晶粒,對應的平均晶粒直徑接近 22 微米;細化到 G = 12 後晶粒數變成 16 倍,平均直徑接近 5.6 微米,強度也明顯提高。

ASTM 數字每加 1,晶粒面積就減半;細個幾階,就代表晶粒小很多、也強很多。

晶粒尺寸若不註明量測依據就沒有意義:同一試片的 ASTM 指數、平均截線長、等面積圓直徑會給出不同數字。務必註明方法,並記得該值是分布的平均,而非固定的晶粒尺寸。

又称
grain diameter晶粒大小晶粒直徑