可測試性設計與測試

故障模型(Fault Model)

故障模型是一種簡化的數學化漫畫,描繪實體缺陷如何表現成錯誤的邏輯行為。真實矽晶可以用無窮無盡的混亂方式失效——髮絲般的裂縫、蝕刻不足的導孔、一顆流浪微粒——但測試機沒辦法去推理裂縫,它只能推理 0 和 1。故障模型就是那座橋:它說「不管物理成因為何,把效果當成『某節點卡住、或某轉態太慢、或兩條線短路』來看待」,給測試工具一份有限且定義明確的搜尋清單。

不同模型抓到不同的真實缺陷。卡住模型抓粗大的斷路與短路;轉態(或全速)模型抓「會慢慢動」的晶片——在測試台上沒事,一上滿速時脈就失效;橋接模型抓兩條意外焊在一起的線;IDDQ 監看異常漏電流;元件感知模型則深入標準元件內部,抓元件內部缺陷。測試工程師會針對好幾種模型各跑圖樣,因為沒有任何一張漫畫能涵蓋矽晶背叛你的每一種方式。

在做 ATPG 前,模型的「故障清單」必須先做摺疊(合併等效故障),否則會浪費力氣替邏輯上完全相同的故障各自產生圖樣。

又称
故障模式缺陷模型