可測試性設計與測試

故障覆蓋率(Fault Coverage)

故障覆蓋率是一個能說明你的測試有多好的單一數字:在模型清單裡的所有故障中,你的圖樣實際能偵測到的比例是多少?若一個電路有一百萬個卡住故障,而你的圖樣抓到其中九十八萬五千個,故障覆蓋率就是 98.5%。它是測試程式的招牌成績——而它與 100% 之間的差距,正是那群可能溜過測試、流到客戶手上的瑕疵晶片。

為什麼不總是要求 100%?有些故障確實不可測(冗餘邏輯、未使用節點),理應排除,於是有了相關指標「測試覆蓋率」。但最後那零點幾個百分比,也是最難、最貴才搶得到的,需要額外圖樣或 DFT 架構。賭注隨應用而升級:消費性產品可能以約 99% 卡住覆蓋率出貨,而車用與醫療晶片則跨多種故障模型追求 99.9% 以上,因為一次「逃逸」——一顆通過測試的瑕疵晶片——可能演變成召回、車禍或人命。著名的關聯是:覆蓋率愈高,出貨的每百萬瑕疵數(DPM)就愈低。

fault coverage (%) = (detected faults / total faults) × 100

要區分「故障覆蓋率」(偵測數/全部故障)與「測試覆蓋率」(偵測數/可測故障);後者永遠 ≥ 前者,因為它把不可測故障從分母排除。

又称
test coverage故障涵蓋率