自動測試圖樣產生（ATPG）

ATPG 是一套演算法——以及執行它的工具——能自動發明出讓晶片中每一個被模型化的故障現形所需的輸入圖樣。給它一張清單，比方說一千萬個可能的卡住故障，ATPG 會對每一個問：我得設定哪些位元、觀察哪些位元，才能讓好晶片與壞晶片給出看得見差異的答案？解一個故障是一道小小的邏輯謎題；ATPG 把它解上百萬次，再聰明地合併圖樣，讓一條測試向量一次殺掉多個故障。

ATPG 透過掃描鏈運作，產出一組精簡的掃描輸入向量，外加預期的掃描輸出回應。它的藝術在於效率：用更少圖樣偵測更多故障，意味著昂貴測試機上的時間更短，所以 ATPG 會把互不相關的故障塞進現有圖樣的「不在意」位元裡。結果以故障覆蓋率呈現——圖樣實際抓到的故障佔清單的百分比——以及一小撮工具無法證成、或根本無解的「不可測」或「中止」故障殘餘。