多芯片模块
多芯片模块,是一种用好几块小芯片拼出一块大型量子处理器的办法。与其把每一个量子比特都做在一整块大裸片上、再指望它全都做得完美无缺,不如先做出若干块较小的量子比特小芯片,逐块单独测试,扔掉次品,只把合格的幸存者并排装到一块共用载板上,让它们连成一体、像一台机器那样运作。可以把它想象成用一块块预先检验过的砖来砌墙,而不是浇出一整块巨大的板子、再祈祷它一道裂缝都没有。
这之所以有用,归根结底在于良率。在一整块大裸片上,一个坏掉的量子比特、一个有损耗的结、或者一个落在错误频率上的元件,就可能毁掉整块芯片;而随着裸片变大,至少出现一处缺陷的概率会迅速攀升。把设计拆成小芯片后,某块失效时你只损失那一小片,而非整个处理器——而且你能在正式拼装前预先筛选小片,挑出频率和相干性都合适的那些。这些小片坐在一块共用的载板或转接板上,由它在彼此之间传递信号,通常用倒装焊凸点或短超导连线相接,于是一条进入模块的控制线,就能够到隔着好几块小片的量子比特。
诚实的代价是:接缝很难做。一处芯片到芯片的连接会带来一点损耗、一点反射,以及一个必须熬过被冷却到绝对零度以上零点几度的机械接头;而跨过小片之间的耦合,几乎总是比小片内部的耦合更弱、噪声更大。所以多芯片模块是用一个良率问题换来一个互连问题:真实的模块确实存在,也是迈向扩大规模的一条活跃路线,但要把小片缝在一起、又不悄悄劣化边界处的量子比特,仍然是远未解决的工程难题。
如果一整块裸片的表现就像 N 个有风险的元件相乘,可用良率会随 N 增大而急剧下降;把它拆成每块 n 个元件的小片、逐块测试并只留合格的,可用良率就能保持高得多。
多芯片模块并不能让任何单个量子比特变得更好;它只是让你能测试并丢弃小片、而不必把整块芯片押在一次零瑕疵的制造上,从而让一块大型处理器变得做得出来。