菊池線（Kikuchi lines）
/ Kikuchi -> kee-KOO-chee /
在稍厚晶體的銳利繞射斑點之外，你常會看到一張細緻的、明暗成對的直線交錯網，橫貫整張圖樣，像地圖上淡淡的公路。這些就是菊池線，以 1928 年解釋它們的菊池正士命名。與固定在顯微鏡螢幕上的斑點不同，這些線牢牢鎖在晶體本身——把晶體傾斜一度，整張線網就平順地在圖樣上滑動，就像真的地圖在你指下滑動一樣。這正是它們如此好用的原因。
用平白的步驟說明其機制。有些進入晶體的電子先發生瀰散散射——它們撞到原子後在試片內部向四面八方噴出，並損失一點能量。這些散射電子中有少數恰好以布拉格角打到某組晶面，於是被第二次繞射。因為瀰散散射的電子朝各個方向前進，滿足某組晶面布拉格條件的那些電子分布在兩個錐面上（晶面兩側各一個），這兩個錐面與平面偵測器相交處畫出兩條近乎筆直的線。每一對線屬於一組晶面 (hkl)；成對線之間的間隙對應兩倍布拉格角，因此與一般 (hkl) 斑點的間距相符。成對線中一條略比背景亮（超額線），另一條略暗（虧損線）。
因為這些線隨晶體移動，它們是取向的精準方向盤。要到達精確的晶帶軸，你就傾斜到好幾對線交會於同一點；要為觀察缺陷建立乾淨的雙束條件，你就把選定的菊池線傾到它的斑點上。同樣的物理在掃描式電子顯微鏡中以電子背向散射繞射（EBSD）的菊池帶再度出現，那裡由電腦自動指標化以繪製晶粒取向。一個誠實的提醒：菊池線需要足夠厚、能產生瀰散散射的試片——太薄它們就消失，太厚它們就糊掉。
你想在一個鋼晶粒裡觀察差排，但繞射是一團令人困惑的斑點。你改為盯著菊池線，傾斜到有一對強線對稱地落在中心兩側——一個乾淨的雙束條件——接著差排就在影像中變成銳利的暗線清晰浮現。
菊池線固定在晶體上，所以它們像一張導航地圖，供你傾斜到精確取向。
菊池線來自在試片內部瀰散散射後再被繞射的電子，所以需要一定厚度——極薄的薄膜給出銳利斑點，卻幾乎沒有菊池線。成對線中亮的「超額」線與暗的「虧損」線分踞對應晶面精確布拉格位置的兩側。