先進封裝
銲錫凸塊(solder bump)
銲錫凸塊(solder bump)是沉積在晶片 I/O 接墊上的一顆微小銲錫球,在覆晶組裝中成為電氣與機械接點。想像把一張氣泡布縮到顯微尺度:一格格規則排列的金屬小珠,每一顆都是未來的一個連接。當晶粒臉朝下壓到基板上加熱時,每顆凸塊同時熔化並焊到落點接墊上,一次回流就形成整片連接陣列。
凸塊尺寸決定連接密度。傳統覆晶 C4 凸塊直徑約 100 微米、間距約 150 µm;用於 2.5D/3D 堆疊晶粒的「微凸塊(microbump)」縮到約 10–25 µm;最新的混合鍵合(hybrid bonding)則完全去掉銲球,以單位數微米間距直接銅對銅熔合。間距越細,每毫米能放越多連接——這正是推動 chiplet 與 3D-IC 整合的關鍵指標。
joints per side ≈ (die_side / bump_pitch)²
無鉛法規(RoHS)迫使從錫鉛改為錫銀銅(SAC)銲料;SAC 熔點更高、更脆,這也是底膠與嚴格熱循環可靠度測試成為標準的原因之一。
又称
另见