電極失效模式

電極失效模式是終結通道可用壽命的各種機制的清單，分為非生物性與生物性兩類。非生物性失效是純粹的材料與機械故障：絕緣層龜裂與剝離、薄膜滲水、金屬導線與尖端的腐蝕與溶解、記錄點鍍層流失、連接器與導線疲勞、打線斷裂，以及氣密破損。生物性失效則是組織機制：膠質包覆、電極周圍神經元流失，以及微動所致的反覆傷害。

對長期陣列（包括人體 Utah 陣列）的外植與縱貫分析一再顯示，機械與材料失效佔失效通道的很大一部分——絕緣與打線故障、連接器問題、金屬尖端劣化——而不僅是組織反應。這將長期可靠度重新界定為一種全系統的性質：即使組織介面完美無瑕，只要饋通滲漏、打線斷裂，或經皮連接器腐蝕，整體仍會失效。