長期訊號劣化

長期訊號劣化是指植入後記錄品質呈現的漸進式衰退，通常歷時數月：單一神經元可用數目下降、棘波振幅縮小、雜訊底噪上升，以及通道徹底失效。它是整個長期介面工程試圖預防的綜合症狀。

其成因具雙重性，且務必加以區分。生物性成因——膠質包覆與電極周圍神經元流失——增加了有效的源到感測器距離。非生物性成因——絕緣層龜裂、薄膜滲水、金屬導線腐蝕、鍍層剝離，以及連接器或導線疲勞——則透過純粹的材料失效使通道死亡。兩者所需的補救方向相反：改善組織整合，對比改善材料可靠度。