介電損耗（dielectric loss）

理想電容器是一具完美的電荷彈簧：在交流週期的一半把能量壓進去，另一半全部拿回來，毫無損失。真實介電質則是略帶黏滯的彈簧——每個週期都有一點能量變成熱，而非被歸還。介電損耗就是那被浪費掉的比例，也是電容器或絕緣體在交流電場下發熱的原因。

標準的量度是 tan delta，即損耗正切（又稱耗散因數）。在理想電容器中，交流電流恰好領先電壓 90 度、沒有功率被耗散；真實電容器則差了一個小角度 delta，而 tan delta 就是那個滯後角的正切。變成熱的功率正比於 omega 乘 C 乘 V^2 乘 tan delta，其中 omega 是角頻率、C 是電容、V 是電壓——所以損耗隨頻率增加、並隨電壓平方增加。從物理上看，損耗來自任何「極化無法完美跟上電場」的過程：離子導電造成的漏電、轉動偶極子的摩擦式弛豫、鐵電疇壁的移動，以及常包覆在晶界上那層薄玻璃相中的耗散。良好的低損耗陶瓷可達 tan delta 約 10^-4（萬分之一）；高介電率的鈦酸鋇介電質則接近 10^-2。

損耗之所以重要有三個理由。它浪費能量並使零件發熱，而在諧振器中它決定品質因數 Q，Q 就是 1/tan delta——微波濾波器或天線要求 Q 愈高愈好，也就是損耗愈低愈好。更糟的是，發熱會自我強化：較熱的介電質通常損耗更大，於是更熱，這種失控最終可能以熱崩潰收場。一個誠實的提醒：損耗從來不是一個固定的材料數值——它隨溫度與頻率攀升，在鐵電相變附近（極化變得遲鈍處）會激增，而在真實的多晶陶瓷中往往由晶界玻璃相、而非晶粒本體所主導。