物相鑑定（phase identification）

每一個結晶物相都有自己獨一無二的一組峰位與相對強度——一枚如人類指紋般獨特的繞射指紋。物相鑑定就是那件日常工作：拿一份未知粉末，記錄它的圖樣，再把這枚指紋和已知者的資料庫比對，找出裡面有哪些結晶物質。這是 X 光繞射最常見的單一用途。

其機制是「搜尋與比對」。你量出圖樣，接著程式把它的峰位（d 值）與相對高度，拿去和參考資料庫比對——ICDD 粉末繞射檔（Powder Diffraction File）收錄了數十萬個已知物相。令人信服的比對需要 d 值與強度排序「都」對上，而非只對一個。若樣品是混合物，它的圖樣就只是各物相圖樣的疊加，軟體便一枚指紋接一枚地把各成分剝開。

這不只告訴你元素，還告訴你實際的化合物，尤其是你手上是哪一種同素異形——方解石與霰石都是碳酸鈣 CaCO3，化學相同卻結構不同，因此圖樣完全不一樣。再配上峰面積，此法就成為定量物相分析（各佔多少）。兩個誠實的極限：X 光繞射只看得到結晶物相，所以非晶或玻璃態成分只呈現為一片寬鼓包，很容易被忽略；而含量低於約百分之一到百分之五的微量相，可能產生弱到根本看不出來的峰。