X 光繞射與結構解析

粉末 X 光繞射(powder X-ray diffraction)

培養一顆完美無瑕的晶體很難,所以粉末繞射走相反的路:把樣品磨成細粉,成為數以百萬計的微小晶粒,每一顆朝著隨機不同的方向。如此一來,對任何一族原子晶面,總有一些晶粒剛好轉到正確角度,滿足布拉格定律。那些晶面會沿著環繞入射光束的圓錐射出繞射線(德拜-謝樂錐),而繞行掃描的偵測器把每個圓錐記錄成一個峰。

這種隨機性帶來一個美妙的後果。單晶會給出完整的三維斑點星座;對所有取向平均後,這個三維倒晶格塌縮成一張簡單的一維清單——就只剩一組晶面間距 d,方向資訊全沒了。偵測器掃描角度 2-theta,每一族間距為 d 的晶面產生一個峰,其位置遵守布拉格定律 lambda = 2 d sin(theta)。你畫出的是強度對 2-theta:一排峰,就是粉末圖樣。

粉末繞射快速、便宜、不需要單晶,是日常用來鑑定樣品中有哪些結晶物相、量測晶格常數、由峰寬估算晶粒尺寸,並可經里特沃爾德精算萃取完整結構細節的工具。要誠實面對它的主要限制:把三維塌縮成一維會丟掉資訊,於是不同的峰可能疊在一起(重疊),而非球形晶粒的優選取向也會扭曲強度。單靠粉末去解一個全新的結構,是實打實的工作,不是一鍵讀出。

食鹽(NaCl)粉末在 Cu K-alpha 光束下,第一個強峰出現在 2-theta 約 31.7 度,來自間距 d = 2.82 埃的 (200) 晶面——任何食鹽樣品都給同一組圖樣,這正是圖樣能當指紋的原因。

晶粒取向的隨機性,把三維倒晶格化為一維的峰對 2-theta 清單。

好的粉末資料需要許多細小且隨機取向的晶粒。晶粒太少太大會給出斑駁、不可靠的強度;片狀或針狀晶粒會優先躺平,使圖樣失真。

又稱
powder XRDPXRDXRPD粉末繞射多晶繞射