測試圖樣／測試向量（Test Pattern）

測試圖樣是測試機施加到晶片上的一組具體「刺激與預期回應」配對：「把這些輸入設成這些值，打一個時脈，輸出就應該剛好讀到這個。」如果真實晶片的輸出相符，這個圖樣就通過；只要有一個位元不同，晶片就判定失效、被剔除分箱。一份完整的測試程式，不過就是數千個這種圖樣依序疊起來，每一個都由 ATPG 設計來圍堵某一組特定故障。

在以掃描為基礎的流程裡，圖樣有固定的形狀：把一串位元移位灌進掃描鏈、施加主要輸入、打一個捕捉時脈，再把捕捉到的回應移位讀出，同時與黃金預期值比對。由於移位一條長鏈要花許多週期，圖樣是昂貴的，於是有一項龐大的工程——測試壓縮——投入在用遠少的圖樣與遠少的掃描接腳週期，編碼出同樣的故障覆蓋率，有時能把測試資料與測試時間縮小 10 到 100 倍。