卡住故障（Stuck-at Fault）

卡住故障是測試世界的主力抽象模型：它假裝某個製造缺陷把一條線永久凍結在邏輯 0（卡 0）或邏輯 1（卡 1），無論電路怎麼試圖改變它都動不了。真正的物理成因可能是金屬碎屑把線短路到地、斷掉的連接，或一顆污染微粒——但測試世界不去模擬那團混亂的物理，只簡單地說「假設這個節點被釘死在某個值」，然後問：有沒有任何測試圖樣會察覺到？

它的威力在於可計數與覆蓋率。一個電路的可能卡住故障是有限且可列舉的——每條訊號線兩種（卡 0 與卡 1）——所以你可以叫 ATPG 工具產生能偵測每一種的圖樣，再精確報出你抓到了百分之幾。要偵測某節點的卡 0 故障，圖樣必須把該節點設成 1（這樣故障才會讓它出現差異），再把差異傳遞到輸出。數十年的證據顯示，能達到高卡住故障覆蓋率的圖樣，也能抓到大多數真實缺陷，即使真實缺陷遠比「一條卡住的線」古怪得多。