可測試性設計與測試

可控性與可觀測性(Controllability & Observability)

這是所有可測性背後的一對孿生問題。可控性問的是:我能不能從晶片輸入端,把這個內部節點強制設成我想要的 0 或 1?可觀測性問的是:如果這個節點出錯了,我能不能在輸出端看到它的影響?藏在邏輯深處的節點,就像被十二道層層門擋住的電燈開關——理論上和外界相連,實務上卻幾乎撥不動(可控性差)、也看不到(可觀測性差)。

要測一個故障,兩者缺一不可:你得把可疑節點驅動到能讓故障現形的值,再把結果傳遞到可觀測的接腳。一個可控性極佳卻毫無可觀測性的節點,就像一個你撥得動卻永遠看不到燈亮的埋藏式開關——撥了也學不到任何資訊。DFT 的存在正是為了提升內部節點的可控性與可觀測性;舉例來說,一個掃描正反器讓自己的輸出直接可觀測、輸入直接可控,瞬間把這個點的兩個問題一次解決。

EDA 工具會計算可控性/可觀測性的數值分數(例如 SCOAP),用來標出最難測、最需要 DFT 協助的節點。

又稱
可控性可觀測性