內建自我測試（Built-In Self-Test, BIST）

內建自我測試把測試機搬進晶片裡。不再靠昂貴的外部機器餵圖樣、查回應，BIST 在晶片內加上一個小型圖樣產生器與回應分析器，讓一個區塊能自我測試：你拉起「開始測試」接腳，晶片自己跑，最後舉起一支「通過／失敗」旗標。這就像把手錶寄到實驗室，相對於手錶本身有一顆自我診斷按鈕的差別。

最常見的是 MBIST（記憶體 BIST），因為晶片內的 SRAM 密度高、易有缺陷，又難以透過掃描觸及；一個小小的有限狀態機，把演算法圖樣（例如經典的「March」測試）逐一行進過每一個記憶體單元，標出任何異常者。邏輯 BIST（LBIST）則用偽隨機圖樣產生器（一個 LFSR）餵入掃描鏈，再用 MISR 把輸出壓縮成單一簽章，與黃金值比對。BIST 在現場與開機自我測試上特別出色——汽車的煞車控制器可以每次發動引擎時重新自測一遍——並降低對緩慢、昂貴的外部測試機的依賴。