繞射原理
繞射強度（diffracted intensity）
繞射圖樣不只是一組斑點位置；每個斑點都有亮度，而那亮度承載著「單位晶胞內什麼在哪裡」的資訊。繞射強度就是某個反射射出多少能量——那個斑點在底片上多黑，或那個峰在圖上多高。位置告訴你單位晶胞的形狀與大小；強度告訴你其中原子的排列。你需要兩者才能知道一個結構。
究其根本，反射 (hkl) 的強度正比於結構因子大小的平方：I 正比於 |F_hkl|^2。但在抵達偵測器實際讀到的數字之前，還有好幾個因子相乘進來。在粉末圖中，這些包括多重性（有幾個對稱等價的晶面在該角度重疊）、勞侖茲-偏極化因子（隨角度變化的幾何與偏極效應）、德拜-沃勒因子（熱振動削弱高角度峰）以及樣品中的吸收。把這些已知因子剝除、還原出乾淨的 |F|^2 值，是分析中標準但繁瑣的一環。
關於強度，唯一的殘酷真相是它失去了什麼。因為 I 正比於 |F|^2，量測保留了 F 的振幅卻丟棄了它的相位——把一個複數平方會扔掉它的方向。這就是相位問題，也是為什麼結構無法直接從圖樣讀出：你量到的是振幅，必須先重建缺失的相位（用直接法、帕特森圖或其他技巧），傅立葉合成才能把資料變成一張電子密度圖。
在鋁的 X 光粉末圖中，(111) 峰最高，不是因為那些晶面是特殊的鏡子，而是因為 |F_111|^2 很大、且有八個等價的 {111} 晶面（多重性 8）重疊。鄰近的 (200) 峰較弱：|F|^2 相近，但多重性僅 6、角度也略高。
峰高是 |F|^2 乘以多重性與幾何因子——解讀它（而非僅讀位置）才能揭露原子排列。
強度正比於 |F|^2，所以它保留了 F 的振幅卻不保留相位。就這麼一次平方，正是相位問題的根源——也是結構解析是一種推論、而非直接讀取的原因。
又稱
另見